Vi arbejder på at gendanne Unionpedia-appen i Google Play Store
UdgåendeIndgående
🌟Vi har forenklet vores design for bedre navigation!
Instagram Facebook X LinkedIn

Atomar kraftmikroskopi

Indeks Atomar kraftmikroskopi

Et atomart kraftmikroscop til venstre med tilknyttet computer til højre. Atomar kraftmikroskopi (engelsk: Atomic Force Microscopy, AFM) er en type mikroskopi, som laver billeder af overflader ved hjælp af en spids nål, der trækkes hen over overfladen.

Indholdsfortegnelse

  1. 7 relationer: Engelsk (sprog), Mikroskopi, Nanoskala, Nanoteknologi, Scanning-sondemikroskopi, Scanning-tunnelmikroskopi, 1986.

Engelsk (sprog)

Lande, hvor engelsk eller en engelsk kreolsk er officielt eller de facto hovedsprog er markeret med mørkeblåt. Lande hvor engelsk er sekundært officielt sprog er markeret med lyseblåt. EN: Engelsk symboliseret ved sprogkode ISO 639-1 Engelsk er et germansk sprog, der tales på de Britiske Øer, i Nordamerika, Australien, New Zealand, Jamaica, Bahamas, Sydafrika, Kenya og Singapore og flere andre steder.

Se Atomar kraftmikroskopi og Engelsk (sprog)

Mikroskopi

Fluorescerende mikroskop Mikroskopi er en metode til at se små detaljer, der ikke kan observeres med det blotte øje.

Se Atomar kraftmikroskopi og Mikroskopi

Nanoskala

Nanoskala: Størrelsesordenen 1 til 100 nm.

Se Atomar kraftmikroskopi og Nanoskala

Nanoteknologi

Nanoteknologi betegner anvendt naturvidenskab, som beskæftiger sig med strukturer af størrelsesorden 0,1 – 100 nm, hvor en nanometer er en milliontedel millimeter (også skrevet som 10⁻⁹ m) Karakteristisk for dette niveau er, at strukturerne er for store til at beskrives af enkle atommodeller, og samtidig er de for små til at beskrives af klassiske teorier, som klassisk termodynamik, klassisk elektromagnetisme og newtonsk fysik.

Se Atomar kraftmikroskopi og Nanoteknologi

Scanning-sondemikroskopi

SEM-billede af en sonde, der bruges til piezorespons kraftmikroskopi. Scanning-sondemikroskopi (engelsk: Scanning Probe Microscopy, SPM) er en klasse af mikroskopi-metoder, hvor en spids nål - en sonde - bringes meget tæt på en overflade for at måle den.

Se Atomar kraftmikroskopi og Scanning-sondemikroskopi

Scanning-tunnelmikroskopi

Scanning-tunnelmikroskopi (STM) er en metode, der bruges til at danne billeder af overfladen på et metal eller en halvleder med så høj opløsningsevne, at det er muligt at skelne enkelte atomer.

Se Atomar kraftmikroskopi og Scanning-tunnelmikroskopi

1986

---- Regerende dronning i Danmark: Margrethe 2. 1972- ---- Se også 1986 (tal).

Se Atomar kraftmikroskopi og 1986

Også kendt som AFM, Atomar kraftmikroskop, Atomart kraftmikroskop, Atomic Force Microscope, Atomic Force-mikroskop.